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X熒光鍍層膜厚儀X-Strata920
X-Strata920 X熒光鍍層膜厚儀介紹
X-Strata920膜厚儀：是牛津儀器新開發(fā)的新一代鍍層膜厚儀，是CMI900膜厚儀的升級產(chǎn)品，將逐漸取代膜厚儀CMI900，是X射線熒光(XRF)鍍層膜厚儀，無損測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，快速簡潔只需要10秒即可得出測量結(jié)果，是質(zhì)量控制、節(jié)約成本的最佳檢測工具。應(yīng)用行業(yè)不一樣，有著多種稱謂：金鎳膜厚儀、LED膜厚儀、金銀膜厚儀、X射線膜厚儀、X-Ray膜厚儀、臺式膜厚儀……
X-Strata920膜厚儀應(yīng)用行業(yè)：
PCB、FPC、LED支架和封裝、連接器、端子、電子元件、五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車零部件、裝飾件、首飾飾品等多個行業(yè)、檢測機構(gòu)和科研院校。
X-Strata920膜厚儀工作原理：
對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
X-Strata920膜厚儀的工作特點：
1.測量時間約10秒，快速無損得出測量結(jié)果，進行非破壞的能量色散X射線熒光（EDXRF）分析；
2.測量元素為鈦Ti22—鈾U92間各元素，范圍寬廣；
3.同時測量5層鍍層（含基材鍍層），15種元素共存校正；
4.測量精度高，結(jié)果精確到微英寸；
5.測量結(jié)果報告可直接打印或輸出到PDF、Excel文檔；
6.測量結(jié)果報告中可包含：數(shù)據(jù)、被測樣品點圖片、各種統(tǒng)計報表；可使用系統(tǒng)預(yù)置的報告模板和客戶自定義的報告模板；
7.系統(tǒng)安全設(shè)置到最高級別，配置有X射線警示燈、X射線鎖、紅色急停開關(guān)、樣品室開閉門傳感器、光閘傳感器、使用者和管理員分級密碼管理等；
8.貴金屬檢測，如Au karat評價；
9.材料和合金元素分析；
10.材料鑒別和分類檢測；
11.元素光譜定性分析
12.提供NIST認證的鍍層標準片。
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